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牛津仪器Etch刻蚀工艺牛津仪器
干法刻蚀LiNbO3刻蚀铌酸锂干法刻蚀LiTaO3刻蚀钽酸锂刻蚀PZT刻蚀锆钛酸铅刻蚀PbSe刻蚀硒化铅刻蚀SiC刻蚀碳化硅 金属刻蚀Al感应耦合等离子体刻蚀铝溅射刻蚀Au溅射刻蚀金刻蚀Cr刻蚀铬Cu
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牛津仪器 牛津仪器Etch刻蚀工艺
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牛津仪器Etch刻蚀工艺 应用硅
铟锡氧化物干法刻蚀LiNbO3—刻蚀铌酸锂干法刻蚀LiTaO3—刻蚀钽酸锂刻蚀PZT—刻蚀锆钛酸铅刻蚀PbSe—刻蚀硒化铅刻蚀SiC—刻蚀碳化硅化合物半导体刻蚀AlGaN/GaN/AlN—刻蚀氮化铝镓
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牛津仪器Etch刻蚀工艺
化铋反应离子刻蚀ITO—刻蚀铟锡氧化物干法刻蚀LiNbO3—刻蚀铌酸锂干法刻蚀LiTaO3—刻蚀钽酸锂刻蚀PZT—刻蚀锆钛酸铅刻蚀PbSe—刻蚀硒化铅刻蚀SiC—刻蚀碳化硅 金属刻蚀Al—感应
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牛津仪器Etch刻蚀工艺 应用有机物
—刻蚀氧化铝—感应耦合等离子体刻蚀蓝宝石GST刻蚀- 锗锑碲化物的ICP刻蚀技术感应耦合等离子体刻蚀Bi2Te3—刻蚀碲化铋反应离子刻蚀ITO—刻蚀铟锡氧化物干法刻蚀LiNbO3—刻蚀铌酸锂干法刻蚀
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牛津仪器Etch刻蚀工艺 应用金属
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牛津仪器半导体检测仪
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PlasmaPro 100 ALE原子层刻蚀半导体检测仪 适用于Power Semiconductors
用特殊配置的PlasmaPro FA设备进行失效分析的干法刻蚀解剖逆工艺,可处理封装好的芯片, 裸晶片,以及200mm晶圆高质量PECVD沉积的氮化硅和二氧化硅,用于光子学、电介质层、钝化以及诸多其它
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半导体检测仪牛津仪器PlasmaPro 100 ALE 样本
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原子层刻蚀牛津仪器半导体检测仪 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture
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