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百欧林 Theta Flow Wafer 晶圆接触角测量仪
了解接触角有助于确保晶片与生产过程中使用的各种材料之间的预期相互作用，最终提高电子设备的性能和可靠性。应用• 研究表面清洁度接触角测量可以评估晶圆的清洁度，从而来评估表面污染物和残留物的去除情况。
大昌华嘉科学仪器 400-6699-117 转 8811免费咨询 -
AL120半导体晶圆搬送及检测显微镜
AL120使用非接触光学定位、查找和对齐缺口／平面，可以减少晶圆和设备之间的接触，提高晶圆的清洁度。
仪景通光学科技（上海）有限公司-生命科学 400-6699-117 转 6030免费咨询 -
全自动非接触晶圆电阻率成像系统
一、全自动非接触晶圆电阻率成像系统核心的技术与测量的能力设备以双非接触式涡流传感器（透射模式） 为核心，搭配光学传感模块，可同步完成电性能与物理形态的多参数测量，覆盖半导体制造关键检测需求：1.
上海昊量光电设备有限公司 400-6699-117 转 4994免费咨询 -
中图仪器无图晶圆几何测量系统
WD4000中图仪器无图晶圆几何测量系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。
深圳市中图仪器股份有限公司 400-6699-117 转 4184免费咨询 -
ACT-3100A 亚微米级高自由度平面CT检测设备
：ACT-3100A是工源三仟自主开发的针对晶圆级封装、板级封装在内的先进封装产品、TGV玻璃基板等大尺寸扁平产品进行进行快速高精度X-ray与CT扫描分析的CT设备，对标某进口品牌Q系列产品。
北京工源三仟科技有限公司 400-6699-117 转 1000免费咨询 -
半导体晶圆清洗NMP检测仪
适用于 对干燥设备及排气管内中心气体浓度检测，采样仪器本体及显示部分采用一体化防爆结构设计，方便安装与拆卸，同 时该仪器具有自动校准、长期免维护和寿命长等特点，具有工业 4-20mA 电流输出、RS485
四方光电股份有限公司 400-6699-117 转 4299免费咨询 -
晶圆厚度粗糙度三维形貌测量系统
可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。
深圳市中图仪器股份有限公司 400-6699-117 转 4184免费咨询 -
有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统
有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统 有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统是一款集成高精度平面尺寸检测和亚纳米级表面3D形貌测量的光学检测仪器，同时满足大范围多区域的高精度全自动检测，优异的重复性及效率有效减少人为误差及人员投入
深圳市中图仪器股份有限公司 400-6699-117 转 4184免费咨询 -
晶圆级超快三维磁场探针台
IBEX-300晶圆级超快三维磁场探针台法国Hprobe公司于2017年3月在法国格勒诺布尔地区成立，旨在为集成电路领域提供快速、准确和灵活的测试设备，主要应用方向为磁随机存取存储器(MRAM)。
清砥量子科学仪器（北京）有限公司 400-6699-117 转 2004免费咨询 -
方坯超声探伤设备
产品详情检测灵敏度Ф0.5×12.7mm横孔检测范围全截面探伤端部盲区≤200mm漏报率≤1％误报率≤3％灵敏度波动≤2dB（连续工作2小时后） 适用于机械、航天、汽车、电力等行业棒材、圆坯、方坯
钢研纳克检测技术有限公司 400-6699-117 转 3726免费咨询
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